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气相二氧化硅分散技术:实现完全解团聚的操作指南

气相二氧化硅(fumed…

2026-04-29

涂料与油墨用气相二氧化硅分散技术 气相二氧化硅(fumed silica)的流变性能完全依赖于均匀、充分解团聚的分散体。分散不良会导致结块、颗粒感、透明度下降以及触变性不可控。本指南覆盖完整分散流程——设备选择、加入顺序与质量验证,适用于涂料与油墨应用。 分散高剪切混合砂磨机涂料油墨

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分散挑战

气相二氧化硅以低堆积密度粉末形式供货(50–300 g/L),由初级粒子(5–40 nm)熔结形成聚集体(100–300 nm),再松散关联成团聚体(1–50…

气相二氧化硅以低堆积密度粉末形式供货(50–300 g/L),由初级粒子(5–40 nm)熔结形成聚集体(100–300 nm),再松散关联成团聚体(1–50 µm)。分散的目标是将团聚体破碎至聚集体级别——初级粒子之间无法在不破坏硅石结构的前提下分离。

"良好分散"的定义

团聚体破碎至 1–20 µm 聚集体簇。研磨细度(Hegman 刮板细度计):≤20 µm。目视:无白色条纹、无颗粒感;透明体系中呈透明状。

分散困难的原因

气相二氧化硅具有极高的比表面积(BET surface area,90–400 m²/g)以及极强的粒子间氢键。润湿表面需要极性介质与每个硅羟基接触——非极性溶剂无法润湿表面,导致分散完全失败。

核心原理: 分散是两步过程——润湿(液体必须接触并包覆每个粒子表面),继而机械解团聚(剪切力破断粒子间键合)。润湿失败时,单靠剪切无法实现分散——一旦剪切停止,硅石立即重新团聚。

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设备选择

设备 剪切强度 最佳适用场景 局限性 高速分散机(HSD) 高(线速度 20–40 m/s) 低至中等黏度液体体系;初级分散步骤 无法达到 \<10 µm 粒径;不适用于无砂磨透明涂料 砂磨机(卧式/立式) 极高…

设备 剪切强度 最佳适用场景 局限性

高速分散机(HSD) 高(线速度 20–40 m/s) 低至中等黏度液体体系;初级分散步骤 无法达到 <10 µm 粒径;不适用于无砂磨透明涂料

砂磨机(卧式/立式) 极高 透明涂料、油墨、要求 <5 µm 的高性能涂料 过磨风险:破坏聚集体结构;清洗复杂

三辊研磨机 极高(压缩式) 高黏度膏体(胶版油墨、厚浆胶黏剂) 不适用于低黏度;间歇操作;产能低

行星混合机 + 分散机 中高 高黏度膏体涂料、密封剂 转速有限;对低黏度液体效果较差

超声波探头 极高(空化效应) 实验室 R&D、稀分散液测试 无法放大至生产规模;产生热量

大多数工业涂料的推荐工艺为:HSD 预分散 → 砂磨机精磨。HSD 完成润湿并破碎大团聚体;砂磨机实现最终解团聚,达到目标粒径。

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分散操作步骤

1. 预混料准备 将总溶剂(或树脂部分)的 30–40% 加入分散机容器,用于制备硅石预分散体(母料)。不要将气相二氧化硅直接加入整批料——低固含量下润湿和剪切均无法有效实施。 2. 搅拌状态下缓慢加入 以低速(300–500…

  1. 预混料准备

将总溶剂(或树脂部分)的 30–40% 加入分散机容器,用于制备硅石预分散体(母料)。不要将气相二氧化硅直接加入整批料——低固含量下润湿和剪切均无法有效实施。

  1. 搅拌状态下缓慢加入

以低速(300–500 rpm)启动分散机。在叶片运转状态下,将气相二氧化硅粉末缓慢加入(历时 5–10 分钟)。切勿一次性倾倒全部粉料——这会形成漂浮层,几乎无法润湿。逐步加入使每部分粉料都能在下一份加入前完成润湿。

  1. 升速至高剪切

确认所有硅石已润湿、无干粉后,将转速升至 1500–3000 rpm(线速度 20–35 m/s),持续运行 15–30 分钟。混合物应形成漩涡,容器壁保持洁净——若硅石粘壁,需提高转速或使用刮壁器。控制温度低于 40 °C。

  1. 真空混合(如有条件)

在高剪切混合过程中施加真空(≤50 mbar),以去除夹带空气。气泡会稳定团聚体,并在最终产品中引起泡沫。真空混合还可通过消除空气的缓冲效应来提高有效剪切力。

  1. 砂磨机过磨(高性能需求)

将预分散体通过砂磨机(研磨珠 0.8–1.5 mm,填充率 70–80%)。通常 1–2 次过磨可达 <10 µm 细度。透明涂料要求 <5 µm 时,使用 0.3–0.5 mm 研磨珠并增加过磨次数。

  1. 兑入整批料

在中等搅拌(非高剪切)条件下,将硅石预分散体加入剩余树脂/溶剂中。避免将整批料倒入预分散体——黏度冲击会损伤分散质量。

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多组分涂料中的加入顺序

对于含颜料、润湿剂和多种树脂的复杂配方,加入顺序至关重要: 推荐顺序: 溶剂/树脂部分 → 润湿分散剂 → 气相二氧化硅(高剪切下)→ 颜料 → 剩余树脂 → 助剂(消泡剂、防腐剂等) 为何在颜料之前加入气相二氧化硅?…

对于含颜料、润湿剂和多种树脂的复杂配方,加入顺序至关重要:

推荐顺序: 溶剂/树脂部分 → 润湿分散剂 → 气相二氧化硅(高剪切下)→ 颜料 → 剩余树脂 → 助剂(消泡剂、防腐剂等)

为何在颜料之前加入气相二氧化硅?

气相二氧化硅与颜料竞争吸附润湿剂。先加硅石,此时润湿剂仍游离于溶液中,有利于硅羟基的充分覆盖。若先加颜料,颜料会消耗润湿剂,导致硅石分散不良,出现浮硅或在颜料浆上方重新团聚。

特殊情况

  • 消光涂料: 在颜料分散完毕后,于最后阶段加入气相二氧化硅消光剂(Aerosil 200 / Acematt OK 412)。若与颜料同步预分散,会破坏负责产生表面粗糙度的聚集体结构。

  • UV 固化体系: 在光引发剂之前加入气相二氧化硅——光引发剂对剪切敏感,应最后在温和搅拌下加入。

  • 水性涂料: 先将气相二氧化硅在含 1–2% 分散剂(阴离子型,如 Tego Dispers 750W)的水中预分散,再加入颜料研磨基料。直接加入整批水性体系会导致快速团聚。

质量检测方法

研磨细度(Hegman 刮板细度计)

在细度计上刮涂分散体,记录颗粒首次出现的深度。目标:普通涂料 \<20 µm,高光泽涂料及油墨 \<10 µm,透明涂料 \<5 µm。

黏度比(触变指数 TI)

以 Brookfield 黏度计分别在 6 rpm 和 60 rpm 下测定黏度。TI = η₆/η₆₀。分散良好的硅石增稠剂 TI = 3–6(因用量而异)。TI \<2 表明分散不良或加量不足。

透明度(透明体系)

在玻璃板上涂布薄膜(湿膜厚度 50 µm),目视及雾度仪评估雾度。粒径 \>50 nm 的团聚体会产生可测量雾度。目标:透明光油雾度 \<5%。

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分散问题排查

分散工艺优化 遇到顽固分散问题?提供您的配方和设备信息——我们将诊断根本原因并推荐纠正方案。 获取分散技术支持

问题根本原因解决方法
硅石漂浮于表面,无法润湿表面极性不匹配(亲水型(hydrophilic)产品用于非极性溶剂)改用疏水型(hydrophobic)产品;或添加少量极性助溶剂改善初始润湿
砂磨后重新团聚分散剂不足;兑料时温度过高将分散剂用量提高至硅石重量的 20–30%;兑料温度保持在 25 °C 以下;砂磨安排在最后步骤
储存期间凝胶化高浓度预分散体中硅石网络过度形成将预分散体硅石浓度降至 &lt;15%;加入 0.5% 胺类中和剂临时破断氢键
细度合格但涂膜有颗粒感兑入整批料时重新团聚在温和搅拌下更缓慢地加入预分散体;确认整批料黏度不会造成剪切冲击
细度合格但透明涂料有雾度残留纳米团聚体(50–200 nm),低于细度计检测下限增加砂磨机过磨次数(使用 0.3 mm 研磨珠);确认分散剂针对硅石表面类型已优化
分散机产生过多泡沫高速下空气夹带;真空不足混合时施加真空;在加硅石前加入 0.1–0.2% 消泡剂;初始阶段降低线速度

分散工艺优化

遇到顽固分散问题?提供您的配方和设备信息——我们将诊断根本原因并推荐纠正方案。

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常见问题

气相二氧化硅能否预先以高浓度分散后再稀释使用?

可以——这实际上是推荐的做法。在树脂或溶剂中制备含 15–25% 气相二氧化硅的预分散体(母料),稳定性良好,可兑入最终配方。浓度超过 25% 时易凝胶,操作困难。母料应密封储存,避免温度极端(\<5 °C 或 \>40 °C)。

为何经砂磨后研磨细度改善,但黏度未提升?

这一矛盾出现于砂磨机损伤了硅石聚集体结构时。砂磨机降低粒径(改善细度),同时也破断了构成触变网络的聚集体链,从而降低黏度。解决方法:优化砂磨机工艺,以最少过磨次数达到目标细度,采用较温和条件(降低流量、减少过磨次数)以保留聚集体链长。

气相二氧化硅应搭配多少用量的润湿剂?

通用起点为润湿/分散剂用量占气相二氧化硅重量的 20–30%(非总配方重量)。例如,1% 硅石加量对应 0.2–0.3% 分散剂。过量会导致泡沫并破坏硅石网络;不足则导致分散不良和重新团聚。请务必先在小试中进行优化。

能否不用分散剂将气相二氧化硅分散于水中?

亲水型气相二氧化硅可在高剪切设备下不加分散剂分散于水中,但所得分散体不稳定,数小时内即会沉降或重新团聚。如需稳定水性分散体,应使用 1–3% 阴离子分散剂(如聚丙烯酸钠或聚磷酸盐),并将 pH 调至 8–10 以增强粒子间静电斥力。配方合理时可制备固含量 10–15% 的稳定分散体。

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